自動抗干擾介質損耗測量儀 型號:AI6000K

產品簡介
AI-6000K自動抗干擾介質損耗測量儀用于現(xiàn)場抗干擾介損測量、試驗室介損測量。儀器為一體化結構，內置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器、標準電容器等。儀器測量結果由大屏幕液晶顯示，儀器自帶微型打印機可打印輸出。
產品特點
? 具有正/反接線，內/外標準電容，內/外高壓多種工作模式。
? 一體化結構，可做各種常規(guī)介損試驗、高電壓介損測量和CVT自激法測量。
? 大屏幕背光LCD顯示，中文圖文菜單，電流電壓實時顯示。
? 啟動后自動緩速升壓——測量——降壓。
? 測試數(shù)據(jù)內容豐富，自動分辨電容、電感、電阻型試品。
? 具有過流、過壓和接地保護，。
? 49/51Hz自動雙變頻介損測量，干擾抑制率可達100。
? CVT自激法測量時，C1/C2可一次接線同時測出，無須換線和外接任何配件。
? 具有變比測量功能，可測量CVT/電磁式PT的變比、極性和相位誤差。
? 具有反接線低壓屏蔽功能，可在母線接地情況下進行10kV不拆線反接線介損測量。
? 帶日歷時鐘，本機可存儲100組測量數(shù)據(jù)。
? 自帶微型打印機可打印輸出。
? 帶RS-232標準接口，也可選配無線藍牙通訊，可實現(xiàn)計算機控制和報表輸出。
自動抗干擾介質損耗測量儀 型號:AI6000K

產品參數(shù)
大輸出電流：200mA/10kV
外形尺寸cm(長x寬x高)：34x26x27
重量kg：22
高電壓介損：支持外接
計算機接口及存儲：RS232存儲100組數(shù)
CVT自激法測量：不需外接設備C1/C2同時測量高壓連線可拖地
CVT變比:有
反接線低壓側屏蔽：C1/C2同時測量
接觸不良提示：有
介損
測量范圍：不限，電容、電感、電阻三種試品自動識別
精度：±（讀數(shù)×1%+0.00040）
分辨率：0.001%
電容
測量范圍
內施高壓：3pF~60000pF/10kV,60pF~1.2μF/0.5kV;
外施高壓：3pF~1.5μF/10kV,60pF~30μF/0.5kV
分辨率：高0.001pF，4位數(shù)字
精度：±（讀數(shù)×1%+1pF）
抗干擾性能：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度
輸出高壓
100V~10000V平滑可調輸出
分辨率 1V
精度 ±（1.5%×讀數(shù)+10V）
大輸出電流 200mA